学术报告（4月10日）

主持人：刘  扬 教授

主题介绍：

1. SiC半导体及其应用
2. SiC MOS界面缺陷
3. SiC MOS界面缺陷钝化技术
4. SiC MOS界面缺陷计算

报告人简介：

王德君，大连理工大学教授，博士生导师。吉林大学半导体材料（化学）专业本科、硕士，清华大学材料学博士，先后服务于北京大学、名古屋大学和奈良先端科学技术大学院大学(NAIST)。

研究领域：
1. SiC半导体器件物理与工艺
2. 基于二维材料的半导体传感器