微纳米薄膜力电热耦合测量系统(Nanoindentation)
发布日期:2023-03-20
型号:Bruker-Hysitron Tribo-indenter TI980
制造商:德国布鲁克
存放地点:550栋115
主要功能及特色
布鲁克TI980纳米压痕仪基于布鲁克的 Performech II 高级控制模块,在精确控制和测试带宽、测试灵活性、适用性、灵敏度、测量可靠性和系统模块化方面取得了显著进步,为纳米力学表征带来了更高水平的性能、功能和易用性。TI 980强大的基础配置包括定量纳米压痕和微米压痕、纳米划痕、纳米摩擦磨损、高分辨率原位扫描探针显微镜 (SPM) 成像、动态纳米压痕和高速性能成像等,可以实现较大的力学加载、匹配多种力学加载模式,可以选择多种外场加载条件,具备一台优异纳米力学测试仪器所需的所有要求。
主要技术指标
- 力学测量模块
- 低载压痕模块
①通过静电压驱动进行力学加载,载荷加载分辨率≤3 nN,最大载荷≥5 mN,载荷噪音背景≤30 nN,最小接触力≤90 nN;
②通过电容传感进行位移测量,传感器位移分辨率≤0.01 nm,Z轴方向压头移动的最大范围≥50mm,最大位移≥5 μm,位移噪音背景<0.1 nm,热漂移≤0.05 nm/s; - 低载划痕
①横向位移噪音≤3 nm,横向位移分辨率≤0.02 nm,最大横向载荷力≥1mN,横向载荷分辨率≤50 nN,载荷噪声背景<4 μN,热漂移(在室温条件下)≤0.05nm/s; - 低载摩擦磨损模块
磨损面积范围≥1 μm×1 μm至60 μm×60μm,最小纵向载荷≤90 nN; - 高载压痕模块
最大载荷≤2 N,载荷噪音背景≤20 μN,通过电容传感器测量位移,以达到最佳位移分辨率≤0.01 nm,最大位移≥50 μm,位移噪音背景≤0.5 nm; - 高载划痕模块
最大横向载荷力≥5 N,横向载荷分辨率≤1μN,横向载荷噪声背景≤50 μN,最大横向位移≥150 mm,横向位移噪音背景≤0.5 nm,横向位移分辨率≤0.1 nm。 - 动态力学测试模块
频率范围≥0.1Hz-300Hz,最大动态振幅力≥5mN,最大准静态力≥10mN,最大动态振幅≥2 μm,最大准静态位移≥5μm,位移噪声≤0.2nm;
- 形貌及性能原位测试表征
- 高解析原位扫描成像及定位系统
探针定位精度可达±10 nm,对压痕、划痕等测试前后形貌进行扫描,可配合高温模块实现高温条件下的原位扫描成像的测试需求;扫描成像分辨率≥4096×4096像素点;X、Y方向扫描范围≥60µm×60µm - 快速压痕模块
超高速力学特性测试:每秒钟≥6个点,可自动与原位扫描成像图像叠加,得到力学与表面形貌分布图;
- 多场加载
- 冷热环境测试平台
温度范围,-120℃到400℃,温度分辨率0.001℃,位移噪音背景≤1 nm,温度精控误差≤0.1℃; - 力电模块
电流躁底≤20 pA,电流分辨率≤5 pA,电压躁底≤10μV,电压分辨率≤5μV,最大电流≥10 mA,最大电压≥10 V,电学采集率≥4 kHz;
- 辅助测试
- 彩色光学显微镜系统
光学分辨率≤1 μm,具备连续变焦功能,显示屏放大倍数≥200-2000; - 开放性样品平台
①可测样品尺寸范围≥100 mm×100 mm×50 mm,Z轴方向可移动范围≥50 mm,X、Y方向平台可移动范围≥250 mm×150 mm,X、Y方向步长分辨率≤50 nm,Z 步长分辨率≤5 nm;
②配备主动防震台:>200 Hz环境下为被动防震,1-200 Hz环境下为主动防震;
主要附件及配置
- Standard transducer (indentation/nanoscratch)
- High load transducer
- NanoECR System
- NanoDMA & Modulus Mapping
- xSol Environmental Control Stage
用户须知
需经过培训获得操作资格后才能使用,或由已培训的人员代为测试
设备预约链接:https://sharing.sysu.edu.cn/home/#/orderDetail?id=3037
设备预约二维码:
注意:点击以上链接,如果出现“系统提示”弹窗(如图绿色方框1),请点击弹窗右上角的“X”(如图红色圆框2),直接关闭弹窗,即可浏览设备详情和收费情况;如需预约,请点击“仪器预约”按钮(如图蓝色方框3),并根据系统提示进行操作。